论文总字数:2013字
项目设计报告
目录
第一部分:引言 | 2 |
第二部分:技术指标 | 2 |
第三部分:设计方案 | 2 |
第四部分:仿真结果 | 5 |
第一部分: 引言
本报告基于 IBM 8HP 0.13µm SiGe BiCMOS 工艺,设计 Ka 波段(32GHz- 38GHz)可调移相器,下文分别给出了设计指标,设计电路,仿真结果以及测试方案,最后讨论了优化的仿案。
第二部分: 技术指标
工作频率:32-38GHz; 移相精度:5bit;
相位调整范围:0-360°;
第三部分: 移相器电路设计方案
该移相器整体设计方案如下:
图 1 5 级无源移相器架构
此 Ka 波段无源相移器使用 IBM130nm BiCMOS 工艺设计。电路原理图如图1,由 5 级相移级构成,分别实现 180°, 90°, 45°, 22.5° 以及 11°相移。相位级采用集总电感电容元器件设计,通过 MOS 开关选通或旁路相应集总元器件得到相应相移。180°相移级由两级基于电感的 T 型 90°相移级组成,在实现大范围(180°)相移的同时,兼顾相移精度和实现面积,如图 2。电感使用对称差分电感器件,有助于减少将版图引入的寄生。
图 2 180° 相移级电路原理图
90°相移级,45°相移级以及 22.5°相移级采用电容和电感的 T 型相移结构,如图 3,通过 MOS 开关选通或旁路相应集总元器件得到相应相移。11°相移级使用数控状态下的变容管提供相移,同时也可以通过调整变容管电压细调此相移级,以便补偿整体相移偏差,如图 4。
图 3 90° 相移级,45°相移级和 22.5°相移级电路原理图
图 4 11°相移级电路原理图
所涉及到的器件设计值见表 1.
表 1. 此相移器中所使用的元件值
180°相 移级 | 90°相移级 | 45°相移级 | 22.5°相 移级 | 11°相移级 | 数字控制 |
L1: 498pH | L1: 248pH | L1: 154pH | L1: 166pH | L:430pH | 开关 NMOS: 1um×120nm×23 |
L2: 512pH | L2: 297pH | L2: 297pH | L2: 766pH | C:205fF | 反相器缓冲 PMOS: 2um×120nm×8 NMOS: 1um×120nm×8 |
C: 80.2fF | C: 40.1fF | C: 40.1fF | Var: 1um×960nm×8 | 隔交电阻:1kΩ | |
数控: 0V 为 0 1.2V 为 1 | 数控: 0V 为 0 1.2V 为 1 | 数控: 0V 为 0 1.2V 为 1 | 数控: 0V 为 0 1.2V 为 1 | 数控: 0V 为 0 1.2V 为 1 模拟调谐: 0V-3.3V | N.A. |
该移相器的版图如下:
图 5 相移器电路版图
第四部分:仿真结果
相移器的相移性能通过仿真 S21 参数的相位得到。如图 6,在其它控制位全零情况下,180°相移级在 35GHz 频率处的相移为 177°。由于考虑到其它控制位不全零情况下,级间状态有所改变,从而使 180°相移级负载改变而引入额外相位偏差,因此为平衡各个控制状态下的相位偏差,此级未设计至 180°相移。
图 6 180°相移级电路的相位仿真结果
图 7 90°相移级电路的相位仿真结果
如图 7,在其它控制位全零情况下,90°相移级在 35GHz 频率处的相移为
92°。同样,为平衡各个控制状态下的相位偏差,此级未设计至 90°相移。同样的,
45°相移级和 22.5°相移级在 35GHz 频率处的相移分别为 44.8°和 22.6°, 如图 8 和图 9。
图 8 45°相移级电路的相位仿真结果
图 9 22.5°相移级电路的相位仿真结果
如图 10,在其它控制位全零情况下,11°相移级数控状态下(即 0V 和 1.2V 分别对应的 0 和 1 状态),在 35GHz 频率处的相移为 10.9°。此外,如上节所提到,11° 相移级因使用变容管,除使用数控状态相移外,还可以通过调谐变容管电压提供相位细调补偿。若压控端输入 1.2V 到 3.3V 调谐,此相移级还可以提供 5.2°的额外相移,如图 11。
图 10 11°相移级电路数控状态下的相位仿真结果
图 11 11°相移级电路 1.2V-3.3V 电压调谐下所提供的额外相位仿真结果
图 12 相移器级数控模式下相位仿真结果
由于基于集总元件 T 型相移结构在大带宽下比较难提供多于 180°的相移,此宽带(17%)相移器在数控状态下(即 0V 和 1.2V 分别对应的 0 和 1 状态) ,在 35GHz 频率处可覆盖 366°相移范围,最大相移偏差 17°,如图 11。此相位偏差完全可以通过 11°相移级使用调谐电压提供相位补偿。
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